X-MET8000系列手持式XRF光譜儀
手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、 礦石、礦物等)的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結(jié)果。
手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、 礦石、礦物等)的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結(jié)果。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
我們的厚度測量儀器提供可靠、簡單的操作以及準(zhǔn)確的測量。具有功能強(qiáng)大,用戶界面良好,從初級水平到雙重技術(shù)的可擴(kuò)展型等系列產(chǎn)品可供選擇。