基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
我們的厚度測(cè)量?jī)x器提供可靠、簡(jiǎn)單的操作以及準(zhǔn)確的測(cè)量。具有功能強(qiáng)大，用戶界面良好，從初級(jí)水平到雙重技術(shù)的可擴(kuò)展型等系列產(chǎn)品可供選擇。
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